CEMHTI - Conditions Extrêmes et Matériaux : Haute Température et Irradiation
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2012 G.Guimbretière, L.Desgranges, A.Canizarès, G.Carlot, R.Caraballo, C.Jégou, F.Duval, N.Raimboux, M.R.Ammar, P.Simon
Determination of in-depth damaged profile by Raman line scan in a pre-cut He2+ irradiated UO2
Appl. Phys. Lett. 100 251914 (2012) [view,doi,HAL]

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