Mesure directe de l'émissivité spectrale

Dispositif de mesure :
Emissivité spectrale déduite directement des mesures des flux émis par l'échantillon et par le corps noir de référence.
Un laser CO₂ de puissance (250 W) chauffe l'échantillon, hors de toute paroi chaude, par la face arrière et/ou la face avant.

• Echantillon chauffé sur deux faces pour minimiser les gradients

• Enceinte permettant de travailler sous atmosphère contrôlée
  (800 K < T < 3 000 K)

• Plaque chauffante pour les milieux opaques et les basses températures
  (400 K < T < 1 200 K)

• Mesure de la température au point de Christiansen pour les diélectriques

• Emissivité directionnelle    -70° à +70°

Exemples :  Silice, Alumine, Magnésie