Conditions Extrêmes et Matériaux : Haute Température et Irradiation
CEMHTI - UPR3079 CNRS

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L.González-Fernández, R.B.Pérez-Sáez, L.del Campo, M.J.Tello, 'Analysis of Calibration Methods for Direct Emissivity Measurements', Appl. Optics, 49 2728-2735 (2010)

ACL

doi HAL  
B.Rousseau, D.De Sousa Meneses, P.Echegut, M.Di Michiel, J.F.Thovert, 'Prediction of the thermal radiative properties of an X-Ray µ-tomographied porous silica glass', Appl. Optics, 46 4266-4276 (2007) doi:10.1364/ao.46.004266 - 22 citations (WoS)