CEMHTI - Conditions Extrêmes et Matériaux : Haute Température et Irradiation
UPR3079 CNRS

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2015

OV
doi HAL
S.Cadars, M.Allix, F.Fayon, E.Véron, D.Massiot
Complémentarité de la RMN, la modélisation et la diffraction pour une cristallographie des systèmes désordonnés
Reflets de la Physique 44-45 50-55 (2015) [view,doi,HAL]