| |
Dispositif de mesure :
Emissivité spectrale déduite
directement des mesures des flux émis par l'échantillon et par le corps noir de
référence.
Un laser CO2
de puissance (250 W) chauffe l'échantillon, hors de toute paroi chaude, par la
face arrière et/ou la face avant.
-
Echantillon chauffé sur deux faces pour minimiser les gradients
-
Enceinte permettant de travailler sous atmosphère contrôlée
(800 K < T < 3 000 K)
-
Plaque chauffante pour les milieux opaques et les basses températures
(400 K < T < 1 200 K)
-
Mesure de la température au point de
Christiansen pour les diélectriques
-
Emissivité directionnelle -70° à +70°
Exemples : Silice, Alumine, Magnésie
|